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大豆表型檢測(cè)儀/系統(tǒng)是一款利用圖象來(lái)分析大豆表型相關(guān)性狀的檢測(cè)系統(tǒng)，可以測(cè)量大豆夾角、莖粗、總粒數(shù)和千粒重等指標(biāo)，這些高通量表型參數(shù)為大豆品種篩選、產(chǎn)量預(yù)測(cè)、基因定位、功能解析等方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。大豆育種研究中，大豆表型參數(shù)和大豆產(chǎn)量、品質(zhì)、抗逆性等密切相關(guān)，進(jìn)而獲取這些參數(shù)也顯得尤為重要，因此我們推出了大豆表型檢測(cè)儀。廣泛適用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的大豆研究

水稻表型檢測(cè)儀可測(cè)量水稻畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、水稻穗粒數(shù)、穗長(zhǎng)、水稻劍葉夾角、莖粗、水稻株高、一/二次枝梗數(shù)量和長(zhǎng)度、各枝梗對(duì)應(yīng)的穗粒數(shù)、著粒密度、穗長(zhǎng)、總粒數(shù)和千粒重等指標(biāo)，這些表型參數(shù)為水稻品種篩選、水稻產(chǎn)量預(yù)測(cè)、稻穗動(dòng)態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和水稻遺傳育種中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。

玉米表型檢測(cè)儀不僅可以測(cè)量凸包面積、外接矩形面積、長(zhǎng)寬比、側(cè)視角緊湊度、側(cè)視角投影面積、株高、莖稈節(jié)間距和莖粗、葉長(zhǎng)、葉片彎曲度、莖葉夾角和千粒重等指標(biāo)，這些高通量表型參數(shù)為玉米品種篩選、產(chǎn)量預(yù)測(cè)、基因定位、功能解析等方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。

小麥表型檢測(cè)儀可測(cè)量小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長(zhǎng)、小穗數(shù)、總粒數(shù)和千粒重等指標(biāo)，這些表型參數(shù)為小麥品種篩選、小麥產(chǎn)量預(yù)測(cè)、麥穗動(dòng)態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和小麥遺傳育種中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。